紫外可見光譜儀的校準(zhǔn)有哪兩種方法
點(diǎn)擊次數(shù):4961 發(fā)布時間:
紫外可見光譜儀是專門針對不同行業(yè)(如環(huán)保行業(yè))用戶的需求,為方便使用,提高工作效率而開發(fā)的產(chǎn)品。鋁質(zhì)外殼緊湊牢固,而且便于更換所有部件。儀器體積小,重量輕,適合放置到任何實(shí)驗(yàn)臺上。
紫外可見光譜儀還有許多根據(jù)用戶的建議和實(shí)際經(jīng)驗(yàn)而改進(jìn)的地方。比如耐化學(xué)腐蝕的表面和便于維修更換部件的側(cè)面開門等。該儀器配備先進(jìn)的CCD光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計先進(jìn)可靠的RF發(fā)生器,簡化了安裝和培訓(xùn)要求。按照EPA標(biāo)準(zhǔn)預(yù)先設(shè)置好分析方法,適合分析:金屬、水/廢水、土壤、泥污、濾渣等。儀器設(shè)備緊湊,占用面積小,樣品流程非常短,因此大大縮短了分析時間和沖洗時間。
紫外可見光譜儀的兩大校正方式:
1.波長校正
波長校正是為使實(shí)際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩部分:
首先通調(diào)整儀器來對設(shè)備進(jìn)行校正,然后是通過漂移補(bǔ)償?shù)霓k法減少因環(huán)境的變換導(dǎo)致譜線產(chǎn)生位移。光譜校正是儀器實(shí)際測得的波長與理論波長之間出現(xiàn)的偏差別進(jìn)行的校正,一般是通過測試一系列元素的波長來進(jìn)行校正,校正后所得數(shù)據(jù)即為對光譜彼進(jìn)行校正的校正數(shù)據(jù)。漂移補(bǔ)嘗是因?yàn)楣馄諆x光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數(shù)關(guān)系,這種函數(shù)關(guān)系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產(chǎn)生的位移z大。漂移補(bǔ)償是一種常規(guī)監(jiān)視過程,其原理是在進(jìn)樣間歇期間,監(jiān)測多條氫線波長,將實(shí)際值與理論值相比較,并對誤差進(jìn)行補(bǔ)償。
2.分析校正
分析校正是為了讓所測元素濃度與儀器所檢測到的光強(qiáng)度建立起聯(lián)系,就是我們常說的做標(biāo)準(zhǔn)曲線,事先配好的標(biāo)樣值,再讓儀器對其進(jìn)行檢測,讓檢測值與濃度之間建立起關(guān)系曲線,未知樣品濃度按照該曲線及所;剛得濃度值得出。在ICP-OES的分散正中,檢測值與濃度之間一般是線性關(guān)系。在實(shí)際工作中,存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時,可以通過調(diào)節(jié)計算方法及火焰觀測方式來減小誤差,提高線性相關(guān)系數(shù)。這里需要說明線性相關(guān)系數(shù)是準(zhǔn)確度的必要不充分條件。